A 2025-ös nürnbergi PCIM Expo keretében a Rohde & Schwarz bemutatja legújabb tesztelési és mérési (T&M) megoldásait a teljesítményelektronika területén, különös tekintettel a széles tiltott sávú (WBG) félvezetőkre, mint a GaN (gallium-nitrid) és a SiC (szilícium-karbid). Május 6. és 8. között a 7-es csarnok 166-os standjánál a látogatók olyan megoldásokat ismerhetnek meg, amelyek növelik a teljesítményt, a hatékonyságot és a megbízhatóságot az olyan igényes alkalmazási területeken, mint az e-mobilitás, a megújuló energiaforrások és az AI adatközpontok.
A kiállítás központi eleme az R&S RT-ZISO izolált mérőfej-rendszer, amely páratlan pontosságot, érzékenységet, dinamikatartományt és sávszélességet biztosít a gyorskapcsolású WBG eszközök elemzéséhez. A hagyományos egyvégű mérőfejekhez képest pontosabb képet ad a GaN-MOSFET-ek kapcsolási viselkedéséről.
A vállalat emellett SiC és GaN eszközökhöz kapcsolódó dupla impulzusú tesztelést is bemutat a PE-Systems GmbH-val együttműködésben. Az R&S®MXO 5 oszcilloszkóp és az RT-ZISO mérőfejek használatával a rendszer precíz és megbízható méréseket tesz lehetővé – például a Wolfspeed 1200 V-os SiC eszközei esetében, amelyek kulcsszerepet játszanak az autóipari vontatási inverterekben.
A load-jump tesztelés terén a Rohde & Schwarz és a PE-Systems automatizálta a hagyományosan manuálisan végzett eljárást, amelyet a Buck konverterek dinamikus terhelési viszonyok közbeni válaszának ellenőrzésére használnak. A rendszer egy Monolithic Power Systems konvertert alkalmaz, és az MXO 5 oszcilloszkópot, RT-ZISO mérőfejet és tesztautomatizálási szoftvert integrál, így gyorsabb és átfogóbb tesztelés válik lehetővé a 6 V–60 V tartományban. Emellett további referenciaértékek is bevonhatók, valamint lehetőség nyílik a teljes környezeti kontroll biztosítására is.
A komponenskarakterizálás is kiemelt témaként szerepel. A vállalat bemutatja az R&S®LCX LCR mérőit, amelyek akár 10 MHz-ig képesek mérni, és ideálisak az olyan passzív alkatrészek, mint az MLCC-k (multirétegű kerámiakondenzátorok) elemzésére. A sweep szoftverrel párosítva részletes feszültségfüggő karakterizálás is elvégezhető. Emellett a Zurich Instruments MFIA impedancia-analizátor is bemutatásra kerül, amely fejlett impedanciaspektroszkópiára képes, és beépített eszközökkel rendelkezik, mint például oszcilloszkóp és spektrumanalizátor alacsony és magas impedanciájú komponensek vizsgálatához egyaránt.
Ezek a bemutatók jól tükrözik a Rohde & Schwarz elkötelezettségét az új generációs teljesítményelektronikával dolgozó mérnökök támogatása iránt. A látogatók első kézből ismerhetik meg ezeket az innovációkat a PCIM 2025-ön, a 7-es csarnok 166-os standján.